
НОВИЙ M.2 PCIE NVME SSD 256 ГБ 512 ГБ 1T 2T HG2283 плюс HYNIX V7
M.2 2280 S2 NVME SSD HG2283 plus Hynix V7 1. ТЕХНІЧНІ ХАРАКТЕРИСТИКИ ПРОДУКТУ Ємність − 128 ГБ, 256 ГБ, 512 ГБ, 1024 ГБ, 2048 ГБ − Підтримка 32-режиму бітової адресації Електричний/фізичний інтерфейс − Інтерфейс PCIe − Сумісність із NVMe 1.3 − PCIe Express Base Ver 3.1 − PCIe Gen 3 x 4 lane та зворотна сумісність із...
M.2 2280 S2 NVME SSD HG2283 плюс Hynix V7
1. ТЕХНІЧНІ ХАРАКТЕРИСТИКИ ПРОДУКТУ
Ємність
− 128 ГБ, 256 ГБ, 512 ГБ, 1024 ГБ, 2048 ГБ
− Підтримка 32-бітового режиму адресації
Електричний/фізичний інтерфейс
− Інтерфейс PCIe
− Сумісний із NVMe 1.3
− PCIe Express Base версії 3.1
− PCIe Gen 3 x 4 смуги та зворотна сумісність із PCIe Gen 2 та Gen 1
− Підтримка до 128 QD із глибиною черги до 64K
− Підтримка керування живленням
Підтримується NAND Flash
− Підтримка до 16 Flash Chip Enables (CE) в одній конструкції
− Підтримка до 4 спалахів BGA132
− Підтримка 8-bit I/O NAND Flash
− Підтримка інтерфейсів Toggle2.0, Toggle3.0, ONFI 2.3, ONFI 3.0, ONFI 3.2 і ONFI 4.0
Samsung V6 3D NAND
Hynix V7 3D NAND
Схема ECC
− HG2283 PCIe SSD застосовує LDPC або алгоритм ECC.
Підтримка розміру сектора
− 512B
− 4 Кб
UART/GPIO
Підтримка команд SMART і TRIM
Діапазон LBA
− Стандарт IDEMA
Продуктивність
Продуктивність HG2283 плюс Hynix V7 (1200 Мбіт/с)
|
Ємність |
Структура Flash (пакет BGA) |
CE# |
Тип спалаху |
Послідовний (CDM) |
IOMeter |
||
|
Читання (МБ/с) |
Запис (МБ/с) |
Читання (IOPS) |
Запис (IOPS) |
||||
|
128 ГБ |
DDP x 1 |
2 |
BGA132, Hynix V7 |
1650 |
1100 |
195K |
260K |
|
256 ГБ |
DDP x 2 |
4 |
BGA132, Hynix V7 |
3100 |
1850 |
360K |
450K |
|
512 ГБ |
QDP x 2 |
8 |
BGA132, Hynix V7 |
3100 |
2090 |
360K |
475K |
|
1024 ГБ |
QDP x 4 |
16 |
BGA132, Hynix V7 |
3100 |
2200 |
360K |
480K |
|
2048 ГБ |
ODP x 4 |
16 |
BGA132, Hynix V7 |
3100 |
2200 |
360K |
480K |
ПРИМІТКИ:
1. Продуктивність базувалася на флеш-пам’яті Hynix V7 TLC NAND.
СПОЖИВАННЯ ЕНЕРГІЇ
|
Ємність |
Конфігурація Flash (пакет BGA) |
|
Споживання енергії3 |
|
|
|
Зчитування (мВт) |
Запис (мВт) |
PS3 (мВт) |
PS4 (мВт) |
||
|
128 ГБ |
DDP x 1 |
2940 |
2530 |
50 |
5 |
|
256 ГБ |
DDP x 2 |
4120 |
3400 |
50 |
5 |
|
512 ГБ |
QDP x 2 |
4090 |
3390 |
50 |
5 |
|
1024 ГБ |
QDP x 4 |
4050 |
3380 |
50 |
5 |
|
2048 ГБ |
ODP x 4 |
4440 |
3810 |
50 |
5 |
ПРИМІТКИ:
1. Дані, отримані на основі Hynix V7 512Gb mono die TLC Flash.
2. Споживання електроенергії вимірюється під час послідовних операцій читання та запису, які виконує IOMeter.
Управління Flash
1.4.1. Код виправлення помилок (ECC)
Комірки флеш-пам’яті погіршуються під час використання, що може призвести до випадкових бітових помилок у збережених даних. Таким чином, HG2283 PCIe SSD застосовує LDPC (Low Density Parity Check) алгоритму ECC, який може виявляти та виправляти помилки, що виникають під час процесу читання, гарантувати правильність читання даних, а також захищати дані від пошкодження.
1.4.2. Вирівнювання зносу
Флеш-пристрої NAND можуть проходити лише обмежену кількість циклів програмування/стирання, коли флеш-носій використовується нерівномірно, деякі блоки оновлюються частіше, ніж інші, і термін служби пристрою значно скорочується. Таким чином, вирівнювання зносу застосовується для продовження терміну служби флеш-пам’яті NAND шляхом рівномірного розподілу циклів запису та стирання на носії.
HosinGlobal пропонує розширений алгоритм вирівнювання зносу, який може ефективно розподілити використання флеш-пам’яті по всій області флеш-носія. Крім того, за допомогою реалізації як динамічного, так і статичного алгоритмів вирівнювання зносу, очікувана тривалість життя флеш-пам’яті NAND значно покращується.
1.4.3. Керування поганими блоками
Погані блоки – це блоки, які не працюють належним чином або містять більше недійсних бітів, що спричиняє нестабільність збережених даних, і їх надійність не гарантується. Блоки, ідентифіковані та позначені виробником як несправні, називаються «ранніми несправними блоками». Пошкоджені блоки, які утворюються протягом життя флеш-пам’яті, називаються «пізніші пошкоджені блоки». HosinGlobal реалізує ефективний алгоритм керування пошкодженими блоками для виявлення заводських пошкоджених блоків і керування пошкодженими блоками, які з’являються під час використання. Ця практика запобігає зберіганню даних у пошкоджених блоках і додатково підвищує надійність даних.
1.4.4. ТРИМ
TRIM — це функція, яка допомагає покращити продуктивність читання/запису та швидкість твердотільних накопичувачів (SSD). На відміну від жорстких дисків (HDD), SSD не можуть перезаписувати наявні дані, тому доступний простір поступово зменшується з кожним використанням. За допомогою команди TRIM операційна система може повідомити SSD, щоб блоки даних, які більше не використовуються, можна було остаточно видалити. Таким чином, SSD виконає дію стирання, що запобігає постійному розміщенню невикористаних даних у блоках.
1.4.5. РОЗУМНИЙ
SMART, абревіатура від Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology, є відкритим стандартом, який дозволяє твердотільному накопичувачу автоматично виявляти його справність і повідомляти про можливі збої. Коли SMART фіксує збій, користувачі можуть вибрати заміну диска, щоб запобігти несподіваному збою або втраті даних. Крім того, SMART може інформувати користувачів про можливі збої, поки ще є час для виконання профілактичних дій, таких як збереження даних на іншому пристрої.
1.4.6. Надмірне забезпечення
Over Provisioning означає збереження додаткової області поза межами можливостей користувача на SSD, яка не видима для користувачів і не може бути використана ними. Однак це дозволяє контролеру SSD використовувати додатковий простір для кращої продуктивності та WAF. За допомогою Over Provisioning продуктивність і IOPS (операції вводу/виводу за секунду) покращуються шляхом надання контролеру додаткового простору для керування циклами P/E, що також підвищує надійність і довговічність. Крім того, посилення запису SSD стає нижчим, коли
контролер записує дані на флеш-пам’ять.
1.4.7. Оновлення прошивки
Прошивку можна розглядати як набір інструкцій щодо того, як пристрій спілкується з хостом. Мікропрограму можна буде оновити, коли додадуться нові функції, вирішаться проблеми сумісності або покращиться продуктивність читання/запису.
1.4.8. Теплове дроселювання
Мета терморегулювання — запобігти перегріванню будь-яких компонентів SSD під час операцій читання та запису. HG2283 розроблено з термодатчиком на матриці та з його точністю; Мікропрограмне забезпечення може застосовувати різні рівні дроселювання для ефективного та проактивного досягнення мети захисту за допомогою SMART читання.
1.5. Розширені функції безпеки пристрою
1.5.1. Безпечне видалення
Secure Erase — це стандартна команда формату NVMe, яка записує всі "0x00", щоб повністю видалити всі дані на жорстких дисках і SSD. Після введення цієї команди контролер SSD зітре свої блоки пам’яті та повернеться до заводських налаштувань за замовчуванням.
1.5.2. Crypto Erase
Crypto Erase — це функція, яка стирає всі дані з активованого OPAL SSD або диска «SED» (Security-Enabled Disk) шляхом скидання криптографічного ключа диска. Оскільки ключ змінено, раніше зашифровані дані стануть марними, досягнувши мети захисту даних.
1.5.3. SID фізичної присутності (PSID)
Ідентифікатор фізичної присутності (PSID) визначається TCG OPAL як 32-рядок символів і призначений для повернення твердотільного накопичувача до заводських налаштувань, коли накопичувач усе ще активований OPAL. Код PSID можна надрукувати на етикетці SSD, якщо SSD з активацією OPAL підтримує функцію повернення PSID.
1.6. Керування терміном служби SSD
1.6.1. Записані терабайти (TBW)
TBW (Terabytes Written) — це вимірювання очікуваного терміну служби SSD, що представляє обсяг даних
записані на пристрій. Для розрахунку TBW SSD використовується таке рівняння:
TBW = [(Витривалість NAND) x (Ємність SSD)] / [WAF]
Витривалість NAND: довговічність NAND стосується циклу P/E (Програмування/Стирання) флеш-пам’яті NAND.
Ємність SSD: Ємність SSD – це питома загальна ємність SSD.
WAF: Коефіцієнт посилення запису (WAF) — це числове значення, що представляє співвідношення між обсягом даних, який повинен записати контролер SSD, і обсягом даних, який записує флеш-контролер хоста. Кращий WAF, який дорівнює близько 1, гарантує кращу витривалість і меншу частоту запису даних у флеш-пам’ять.
TBW у цьому документі базується на робочому навантаженні JEDEC 218/219.
1.6.2. Індикатор зносу носія
Індикатор фактичного терміну служби, який повідомляє SMART Attribute byte index [5], Percentage Used, рекомендує користувачеві замінити диск, коли він досягає 100 відсотків.
1.6.3. Режим лише для читання (кінець життя)
Коли накопичувач старіє через сукупні цикли програмування/стирання, зношеність носія може спричинити збільшення кількості пізніх пошкоджених блоків. Коли кількість корисних блоків виходить за межі визначеного діапазону, накопичувач сповістить хост через подію AER і критичне попередження, щоб перейти в режим лише для читання, щоб запобігти подальшому пошкодженню даних. Користувач повинен негайно почати замінювати диск на інший.
1.7. Адаптивний підхід до налаштування продуктивності
1.7.1. Пропускна здатність
Залежно від доступного місця на диску HG2283 регулюватиме швидкість читання/запису та керуватиме пропускною здатністю. Коли залишається багато місця, мікропрограма постійно виконуватиме дії читання/запису. Все ще немає потреби впроваджувати збір сміття для виділення та звільнення пам’яті, що прискорить обробку читання/запису для підвищення продуктивності. Навпаки, коли простір буде використано, HG2283 уповільнить обробку читання/запису та запровадить збір сміття, щоб звільнити пам’ять. Отже, продуктивність читання/запису стане нижчою.
1.7.2. Передбачення та вибірка
Зазвичай, коли хост намагається прочитати дані з PCIe SSD, PCIe SSD виконає лише одну дію читання після отримання однієї команди. Однак HG2283 застосовує Predict & Fetch для покращення швидкості читання. Коли хост видає послідовні команди читання на SSD PCIe, SSD PCIe автоматично очікує, що наступні команди також будуть читати. Таким чином, до отримання наступної команди flash вже підготував дані. Відповідно, це прискорює час обробки даних, і хосту не потрібно так довго чекати, щоб отримати дані.
1.7.3. Кешування SLC
В даний час у дизайні мікропрограми HG2283 використовується динамічне кешування, що забезпечує кращу продуктивність і покращує роботу користувача.
3.1. Екологічні умови 3.1.1. Температура і вологість
Таблиця 3-1 Висока температура
|
|
Температура |
Вологість |
|
Операція |
70 градусів |
0 відсотків відносної вологості |
|
Зберігання |
85 градусів |
0 відсотків відносної вологості |
Таблиця 3-2 Низька температура
|
|
Температура |
Вологість |
|
Операція |
0 ступінь |
0 відсотків відносної вологості |
|
Зберігання |
-40 ступінь |
0 відсотків відносної вологості |
Таблиця 3-3 Висока вологість
|
|
Температура |
Вологість |
|
Операція |
40 градусів |
90 відсотків відносної вологості |
|
Зберігання |
40 градусів |
93 відсотки відносної вологості |
Таблиця 3-4 Температурні цикли
|
|
Температура |
|
Операція |
0 ступінь |
|
70 градусів1 |
|
|
Зберігання |
-40 ступінь |
|
85 градусів |
Примітки:
1. Робоча температура вимірюється температурою корпусу, яку можна визначити за допомогою запропонованого SMART Airflow, і це дозволить пристрою працювати за відповідної температури для кожного компонента під час важких робочих навантажень.
3.1.2. Шок
Таблиця 3-5 Шок
|
|
Сила прискорення |
|
Неоперативний |
1500G |
3.1.3. вібрація
Таблиця 3-6 Вібрація
|
|
Cond |
іція |
|
Частота/зсув |
Частота/Прискорення |
|
|
Неоперативний |
20 Гц ~ 80 Гц/1,52 мм |
80 Гц ~ 2000 Гц/20G |
3.1.4. Падіння
Таблиця 3-7 Drop
|
|
|
Висота падіння |
|
|
Кількість падінь |
|
Неоперативний |
|
Вільне падіння 80 см |
|
|
6 грань кожної одиниці |
|
3.1.5. Згинання |
Згинання столу 3-8 |
|
|
||
|
|
|
Сила |
|
|
Дія |
|
Неоперативний |
|
Більше або дорівнює 20 Н |
|
|
Тримайте 1 хв/5 разів |
|
3.1.6. Крутний момент |
Таблиця 3-9 Крутний момент |
|
|
||
|
|
|
Сила |
|
|
Дія |
|
Неоперативний |
|
0.5N-м або ±2,5 град |
|
|
Тримайте 1 хв/5 разів |
|
3.1.7. Електростатичний розряд (ESD) |
Таблиця 3-10 ESD |
|
|
||
|
Специфікація |
|
|
плюс /- 4KV |
|
|
|
EN 55024, CISPR 24 EN 61000-4-2 та IEC 61000-4-2 |
Це впливає на функції пристрою, але EUT автоматично повернеться до нормального чи робочого стану. |
||||
4. ЕЛЕКТРИЧНІ ХАРАКТЕРИСТИКИ
4.1. Напруга живлення
Таблиця 4-1 Напруга живлення
|
Параметр |
Рейтинг |
|
Робоча напруга |
Мін.=3.14 В Макс.=3.47 В |
|
Час наростання (макс./мін.) |
10 мс / 0,1 мс |
|
Час падіння (макс./мін.) |
1500 мс / 1 мс |
|
Хв. Час вимкнення1 |
1500 мс |
ПРИМІТКА:
1. Мінімальний час між відключенням живлення від SSD (Vcc < 100 мВ) і повторним поданням живлення на диск.
4.2. Споживання енергії
Таблиця 4-2 Споживання електроенергії в мВт
|
Ємність |
Конфігурація Flash |
CE# |
Читати (макс.) |
Написати (макс.) |
Прочитайте (Середнє) |
Написати (середнє) |
|
128 ГБ |
DDP x 1 |
2 |
3200 |
2930 |
2940 |
2530 |
|
256 ГБ |
DDP x 2 |
4 |
4650 |
4560 |
4120 |
3400 |
|
512 ГБ |
QDP x 2 |
8 |
5260 |
4190 |
4090 |
3390 |
|
1024 ГБ |
QDP x 4 |
16 |
5350 |
6070 |
4050 |
3380 |
|
2048 ГБ |
ODP x 4 |
16 |
6320 |
6650 |
4440 |
3810 |
ПРИМІТКИ:
На основі APF1Mxxx серії за температури навколишнього середовища.
Середнє значення енергоспоживання досягається на основі 100-відсоткової ефективності перетворення.
Виміряна напруга живлення становить 3,3 В.
Температура накопичувача в PS1 повинна залишатися постійною або трохи знижуватися для всіх робочих навантажень, тому фактична потужність у PS1 повинна бути нижчою, ніж PS0.
Температура накопичувача в PS2 має різко знизитися для всіх робочих навантажень, тому фактична потужність у PS2 має бути нижчою, ніж у PS1.
5. ІНТЕРФЕЙС
5.1. Призначення та опис пінів
Таблиця {{0}} визначає призначення сигналу внутрішнього роз’єму NGFF для використання SSD, описаного в специфікації PCI Express M.2 версії 1.0 PCI-SIG.
Таблиця 5-1 Призначення контактів і опис HG2283 M.2 2280
|
PIN-код |
Pin PCIe |
опис |
|
1 |
GND |
CONFIG_3=GND |
|
2 |
3.3V |
Джерело 3,3 В |
|
3 |
GND |
Земля |
|
4 |
3.3V |
Джерело 3,3 В |
|
5 |
PETn3 |
Диференціальний сигнал PCIe TX, визначений специфікацією PCI Express M.2 |
|
6 |
N/C |
Немає підключення |
|
7 |
PETp3 |
Диференціальний сигнал PCIe TX, визначений специфікацією PCI Express M.2 |
|
8 |
N/C |
Немає підключення |
|
9 |
GND |
Земля |
|
10 |
LED1# |
Відкритий дренаж, активний низький сигнал. Ці сигнали використовуються, щоб дозволити платі надбудови надавати індикатори стану через світлодіодні пристрої, які надаватиметься системою. |
|
11 |
PERn3 |
Диференціальний сигнал PCIe RX, визначений специфікацією PCI Express M.2 |
|
12 |
3.3V |
Джерело 3,3 В |
|
13 |
PERp3 |
Диференціальний сигнал PCIe RX, визначений специфікацією PCI Express M.2 |
|
14 |
3.3V |
Джерело 3,3 В |
|
15 |
GND |
Земля |
|
16 |
3.3V |
Джерело 3,3 В |
|
17 |
PETn2 |
Диференціальний сигнал PCIe TX, визначений специфікацією PCI Express M.2 |
|
18 |
3.3V |
Джерело 3,3 В |
|
19 |
PETp2 |
Диференціальний сигнал PCIe TX, визначений специфікацією PCI Express M.2 |
|
20 |
N/C |
Немає підключення |
|
21 |
GND |
Земля |
|
22 |
N/C |
Немає підключення |
|
23 |
PERn2 |
Диференціальний сигнал PCIe RX, визначений специфікацією PCI Express M.2 |
|
24 |
N/C |
Немає підключення |
|
25 |
PERp2 |
Диференціальний сигнал PCIe RX, визначений специфікацією PCI Express M.2 |
|
26 |
N/C |
Немає підключення |
|
27 |
GND |
Земля |
|
28 |
N/C |
Немає підключення |
|
29 |
PETn1 |
Диференціальний сигнал PCIe TX, визначений специфікацією PCI Express M.2 |
|
30 |
N/C |
Немає підключення |
|
31 |
PETp1 |
Диференціальний сигнал PCIe TX, визначений специфікацією PCI Express M.2 |
|
32 |
GND |
Земля |
|
33 |
GND |
Земля |
|
34 |
N/C |
Немає підключення |
|
35 |
PERn1 |
Диференціальний сигнал PCIe RX, визначений специфікацією PCI Express M.2 |
|
36 |
N/C |
Немає підключення |
|
37 |
PERp1 |
Диференціальний сигнал PCIe RX, визначений специфікацією PCI Express M.2 |
|
PIN-код |
Pin PCIe |
опис |
|
38 N/C |
Немає підключення |
|
|
39 GND |
Земля |
|
|
40 SMB_CLK (введення/виведення) (0/1,8 В) |
годинник SMBus; Відкритий дренаж із підтягуванням на платформі |
|
|
41 |
PETn0 |
Диференціальний сигнал PCIe TX, визначений специфікацією PCI Express M.2 |
|
42 |
SMB{{0}}ДАНІ (В/В)(0/1,8 В) |
Дані SMBus; Відкритий дренаж із підтягуванням на платформі. |
|
43 |
PETp0 |
Диференціальний сигнал PCIe TX, визначений специфікацією PCI Express M.2 |
|
44 |
ПОПЕРЕДЖЕННЯ №(O) (0/1,8 В) |
Сповіщення майстра; Відкритий дренаж із підтягуванням на платформі; Активний низький. |
|
45 |
GND |
Земля |
|
46 |
N/C |
Немає підключення |
|
47 |
PERn0 |
Диференціальний сигнал PCIe RX, визначений специфікацією PCI Express M.2 |
|
48 |
N/C |
Немає підключення |
|
49 |
PERp0 |
Диференціальний сигнал PCIe RX, визначений специфікацією PCI Express M.2 |
|
50 |
ПЕРСТ#(I)(0/3,3 В) |
PE-Reset — це функціональне скидання до картки, як визначено специфікацією PCIe Mini CEM. |
|
51 |
GND |
Земля |
|
52 |
CLKREQ#(I/O)(0/3,3 В) |
Запит тактової частоти – це сигнал запиту тактової частоти, як визначено специфікацією PCIe Mini CEM; Також використовується підстанами L1 PM. |
|
53 |
REFCLKn |
Сигнали PCIe Reference Clock (100 МГц), визначені специфікацією PCI Express M.2. |
|
54 |
PEWAKE#(I/O)(0/3,3 В) |
PCIe PME Wake. Відкритий дренаж із підтягуванням на платформі; Активний низький. |
|
55 |
REFCLKp |
Сигнали PCIe Reference Clock (100 МГц), визначені специфікацією PCI Express M.2. |
|
56 |
Зарезервовано для MFG DATA |
Лінія даних виробництва. Використовується лише для виробництва SSD. У нормальній роботі не використовується. Штифти повинні залишатися Н/З у гнізді платформи. |
|
57 |
GND |
Земля |
|
58 |
Зарезервовано для MFG CLOCK |
Лінія виробництва годинників. Використовується лише для виробництва SSD. У нормальній роботі не використовується. Штифти повинні залишатися Н/З у гнізді платформи. |
|
59 |
Ключ модуля M |
Ключ модуля |
|
60 |
Ключ модуля M |
|
|
61 |
Ключ модуля M |
|
|
62 |
Ключ модуля M |
|
|
63 |
Ключ модуля M |
|
|
64 |
Ключ модуля M |
|
|
65 |
Ключ модуля M |
|
|
66 |
Ключ модуля M |
|
|
67 |
N/C |
Немає підключення |
|
68 |
SUSCLK (32 кГц) (I)(0/3.3V) |
Вхідний сигнал тактової частоти 32,768 кГц, який надається чіпсетом платформи для зменшення потужності та вартості модуля. |
|
69 |
NC |
CONFIG_1=Немає підключення |
|
70 |
3.3V |
Джерело 3,3 В |
|
71 |
GND |
Земля |
|
72 |
3.3V |
Джерело 3,3 В |
|
73 |
GND |
Земля |
|
74 |
3.3V |
Джерело 3,3 В |
|
75 |
GND |
CONFIG_2=Земля |
Форм-фактор: M.2 2280 S2
Розміри: 80.00 мм (Д) x 22.00 мм (Ш) x 2,15 мм (В)
|
Напрямок перегляду |
Діаграма |
|
Топ |
![]()
|
|
Дно |
|
|
Напрямок перегляду |
Діаграма |
|
сторона |
|
|
|
|

Малюнок 7-1 Механічна схема продукту та розміри
8. ПРИМІТКИ ДО ЗАЯВКИ
8.1. Запобіжні заходи при поводженні з упаковкою стружки (WLCSP).
Є багато компонентів, зібраних на одному пристрої SSD. Будь ласка, поводьтеся з приводом обережно, особливо якщо він має будь-які компоненти WLCSP (Wafer Level Chip Scale Packaging), такі як PMIC, термодатчик або перемикач навантаження. WLCSP — це одна з технологій пакування, яка широко використовується для створення невеликих слідів, але будь-які удари чи подряпини можуть пошкодити ці надмалі деталі, тому настійно рекомендується дбайливе поводження.
НЕ ВИПАДАЙТЕ SSD
УВАЖНО ВСТАНОВЛЮЙТЕ SSD
РОЗІРВАВ SSD В НАЛЕЖНІЙ УПАКОВЦІ
8.2. Застереження щодо складання M.2 SSD
M Key M.2 SSD (Малюнок 1) сумісний лише з роз’ємом M Key (Малюнок 2). Як показано у випадку використання 2, неправильне використання може призвести до серйозних пошкоджень SSD, включаючи вигорання.
Малюнок 8-1 M Key M.2 Застереження щодо складання

Популярні Мітки: НОВИЙ M.2 PCIE NVME SSD 256 ГБ 512 ГБ 1T 2T HG2283 плюс HYNIX V7, Китай НОВИЙ M.2 PCIE NVME SSD 256 ГБ 512 ГБ 1T 2T HG2283 плюс HYNIX V7
Послати повідомлення
















